德國EPK2100膜厚計
簡要描述：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能，可選配探頭，所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇Z適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
產品型號：EPK2100- 廠商性質：經(jīng)銷商
- 更新時間：2025-07-01
- 訪 問 量：2037
產品詳情
德國EPK2100膜厚計
MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀
德國EPK（Elektrophysik）公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準
德國EPK（Elektrophysik）公司 涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術特征
| 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 | ||||
| 應用行數(shù)（根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù)） | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每個應用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設寬容度極限值） | | 1 | 10 | 99 |
| 可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) | | 1 | 500 | 500 |
| 數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
| MINITEST統(tǒng)計計算功能 | ||||
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar | | √ | √ | √ |
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ |
| 組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar | | | √ | √ |
| 組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ |
| 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數(shù)據(jù) | | | | √ |
| 分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 | | | √ | √ |
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | | √ | √ | √ |
| 其他功能 | ||||
| 設置極限值 | | | √ | √ |
| 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 | | | √ | √ |
| 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | | | √ | √ |
| 連續(xù)測量模式中顯示zui小值 | | | √ | √ |
德國EPK（Elektrophysik）公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù):
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
| 探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | zui小曲率半徑 （凸/凹） | zui小測量 區(qū)域直徑 | zui小基 體厚度 | 探頭尺寸 | |
| 磁 感 應 法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±（1%±0.7μm） | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
| F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±（1%±10μm） | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±（1%±10μm） | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±（3%±50μm） | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
| 兩 用 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | |
| FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | |
| 電 渦 流 法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±（1%±0.5μm） | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
| N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±（1%±25μm） | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±（1%±50μm） | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±（1%±0.3mm） | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm | |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層
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