產(chǎn)品概述

　　原子力顯微鏡是一款領(lǐng)先的高分辨率表面分析工具，專(zhuān)為準(zhǔn)確研究樣品表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。

　　憑借其納米級(jí)的超高分辨率，原子力顯微鏡可以提供極為詳細(xì)的表面信息，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物學(xué)以及半導(dǎo)體行業(yè)等領(lǐng)域。其多種掃描模式和精密操控系統(tǒng)使

　　得它能夠輕松應(yīng)對(duì)不同樣品的復(fù)雜結(jié)構(gòu)和特性分析。

　　這款顯微鏡支持接觸模式和輕敲模式，能夠根據(jù)樣品的硬度和性質(zhì)調(diào)整工作方式，尤其適用于硬度較高或較脆弱的樣品。輕敲模式可以有效減少對(duì)樣品的損傷，使其成為軟性或生物樣品研究的理想選擇。

　　原子力顯微鏡還具有三維成像能力，能夠呈現(xiàn)清晰的樣品表面三維形貌，幫助用戶(hù)更加深入地理解表面特征和微觀(guān)結(jié)構(gòu)。

　　除了高分辨率成像和多模式掃描，這款顯微鏡還具備非接觸操作方式，在進(jìn)行軟性材料或生物樣品的觀(guān)察時(shí)，能夠在不接觸樣品表面的情況下完成測(cè)量，有效減少物理?yè)p害，確保樣品保持其原始狀態(tài)。

　　這一特性使得它在生物樣本、薄膜和其他敏感材料的研究中尤為重要。原子力顯微鏡不僅適用于固體樣品，也能兼容液體和薄膜樣品，具有廣泛的適用性。

　　無(wú)論是用于納米尺度的結(jié)構(gòu)分析，還是對(duì)材料表面性質(zhì)的研究，它都能夠提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)支持。此外，儀器的操作環(huán)境要求溫度在18℃至25℃之間，濕度不超過(guò)60%，能夠確保穩(wěn)定運(yùn)行并提供高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。

　　憑借其強(qiáng)大的功能和精密的設(shè)計(jì)，原子力顯微鏡不僅是實(shí)驗(yàn)室科研人員、工程師和材料學(xué)家的得力助手，也為半導(dǎo)體、生命科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域的研究提供了先進(jìn)的工具，助力更深入的微觀(guān)研究與創(chuàng)新探索。

　　產(chǎn)品特點(diǎn)

　　超高分辨率：納米級(jí)分辨率，準(zhǔn)確觀(guān)察樣品表面結(jié)構(gòu)。

　　多模式掃描：支持多種掃描模式。

　　三維成像：提供樣品表面三維形貌圖，細(xì)節(jié)清晰。

　　非接觸操作：減少對(duì)樣品的損傷，適合軟材料和生物樣本。

　　精密控制：原子級(jí)操控精度，能夠?qū)崿F(xiàn)高精度表面分析。

　　兼容多種樣品：適用于固體、液體和薄膜等多種樣品類(lèi)型。

　　技術(shù)參數(shù)：

　　1、掃描模式：接觸模式、輕敲模式

　　2、掃描范圍：

　　X-Y方向： 70μm × 70μm

　　Z方向： 17μm

　　3、空間分辨率：

　　X-Y方向： ≤1nm

　　Z方向： ≤0.1nm(亞納米級(jí)高度分辨率)

　　4、掃描速度： 高10Hz，提供快速掃描能力。

　　5、探針類(lèi)型：

　　標(biāo)準(zhǔn)硅探針(Si Probe)，彈簧常數(shù)：0.01N/m至40N/m，適應(yīng)不同樣品。

　　6、樣品尺寸：

　　較大尺寸：15mm × 15mm

　　較大厚度：2mm

　　7、噪聲水平：

　　X-Y方向： ≤0.01nm RMS

　　Z方向： ≤0.05nm RMS

　　8、掃描頭： 高精度壓電陶瓷掃描頭，帶閉環(huán)控制。

　　9、操作環(huán)境：

　　溫度：18℃至25℃

　　濕度：≤60%

　　10、數(shù)據(jù)采集與分辨率：

　　圖像分辨率：512×512至2048×2048像素，高分辨率清晰呈現(xiàn)樣品細(xì)節(jié)。

　　11、控制軟件與接口：

　　直觀(guān)GUI界面，支持USB或以太網(wǎng)接口，確保數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定。

　　12、電源要求：

　　支持220V/50Hz或110V/60Hz電源輸入。