產品概述

　　X射線熒光光譜儀是一款高精度、高靈敏度的無損分析儀器，專為材料分析與元素檢測設計。它采用先進的XRF技術，能夠進行快速、準確的元素分析，并能識別多種元素成分。該設備廣泛應用于環(huán)境監(jiān)測、礦產資源、金屬材料、電子產品等領域，特別適用于高精度的快速檢測和質量控制。憑借其非破壞性檢測、快速分析能力和高靈敏度，X射線熒光光譜儀為用戶提供了可靠的分析結果，適合大批量樣的檢測。

　　產品特點

　　非破壞性分析：XRF技術允許對樣品進行無損檢測，無需破壞樣品即可進行成分分析，這對于珍貴或不可再生樣品尤為重要。

　　快速分析：XRF分析速度快，可以在幾分鐘內完成樣品的全元素分析，適合快速質量控制和現(xiàn)場測試。

　　廣泛的元素檢測范圍：能夠檢測從輕元素(如鈉、鎂)到重元素(如鈾)的廣泛元素，覆蓋周期表中的大部分元素。

　　高靈敏度和準確度：XRF技術具有高靈敏度，能夠檢測到極低濃度的元素(ppm級別)，并且準確度較高，適合準確分析。

　　技術參數(shù)：

　　1、探測器

　　分辨率：2048 × 2048 像素(CMOS探測器)

　　探測面積：4.6 mm × 4.6 mm，適合高分辨率圖像分析

　　探測深度：23.5 mm × 15.0 mm

　　2、成分分析精度

　　分析精度：≤ 2 μm

　　成分測量精度：0.5%(測試樣品的元素濃度精度)

　　3、掃描速度與分析模式

　　掃描速度：2D成像掃描，≤ 1秒/幀(快速掃描模式)

　　成分分析模式：2D圖像分析，快速數(shù)據(jù)處理，適用于多元素分析

　　4、樣品平臺

　　較大尺寸：30 mm × 30 mm

　　支持多種樣品尺寸和形態(tài)，適應不同材料的檢測需求

　　5、數(shù)據(jù)輸出與格式

　　輸出格式：支持STF、DICOM、JPEG等文件格式

　　數(shù)據(jù)接口：支持USB連接，便于數(shù)據(jù)傳輸與存儲

　　6、溫度范圍

　　樣品溫度范圍：-196°C至100°C(適合多種測試環(huán)境)

　　7、設備尺寸與功率

　　外形尺寸：650 mm(L)× 400 mm(W)× 550 mm(H)

　　功率：X射線熒光光譜儀具有低功耗設計，較大功率消耗100W

　　8、安全性

　　安全設計：符合國際安全標準，配備保護裝置，確保操作過程中的人員安全。